在软件评测师的备考过程中，基础阶段的前 1 - 2 个月对于掌握关键知识点至关重要。其中，测试右移实践中的生产环境 APM 工具（New Relic）异常日志抓取与缺陷关联流程是一个重要的部分。
一、New Relic 工具简介
New Relic 是一款强大的应用性能管理（APM）工具，它能够实时监控应用程序的性能和运行状况。在生产环境中，它可以帮助我们快速发现潜在的问题。
二、异常日志抓取
（一）了解日志类型
要掌握异常日志抓取，首先需要了解 New Relic 中不同类型的日志，如系统日志、应用日志等。系统日志记录了操作系统层面的信息，而应用日志则侧重于应用程序的运行情况。
（二）配置监控指标
通过 New Relic 的界面，我们可以配置需要监控的指标，例如响应时间、错误率等。当这些指标超出预设的阈值时，系统会自动生成异常日志。
（三）使用搜索和过滤功能
New Relic 提供了强大的搜索和过滤功能，帮助我们快速定位到所需的异常日志。我们可以根据时间范围、日志级别、关键字等进行筛选。
三、缺陷关联流程
（一）缺陷识别
当异常日志被抓取后，我们需要对其进行仔细分析，以确定是否为缺陷。这可能需要对应用程序的业务逻辑和功能有深入的了解。
（二）创建缺陷报告
一旦确认是缺陷，我们需要在缺陷管理工具中创建相应的缺陷报告。报告应包括缺陷的详细描述、重现步骤、影响范围等信息。
（三）关联异常日志
在缺陷报告中，我们需要关联相应的异常日志，以便开发人员能够快速定位问题的根源。
四、学习方法建议
（一）理论学习
阅读相关的教材和在线教程，了解 New Relic 的基本原理和功能。
（二）实践操作
在自己的测试环境中安装和使用 New Relic，进行实际的异常日志抓取和缺陷关联操作。
（三）案例分析
研究一些实际的案例，了解在复杂的应用场景中如何有效地运用 New Relic 进行问题排查和缺陷管理。
总之，在备考软件评测师的过程中，对于测试右移实践中的 New Relic 异常日志抓取与缺陷关联流程，需要我们通过理论学习、实践操作和案例分析等多种方式，深入理解和掌握，为后续的考试和实际工作打下坚实的基础。
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