元器件计数法适用于研制早期阶段，基本假设是系统的故障率服从（）。

元器件计数法是一种在系统研制早期阶段使用的可靠性预计方法，其核心假设是系统的故障率服从指数分布。指数分布特性：故障率恒定（即无记忆性），适用于描述电子元器件在偶然故障期的可靠性行为。实际应用：该方法通过统计元器件的种类、数量及通用故障率（假设为常数），快速估算系统整体故障率。其他分布排除原因。

离散分布（A）：通常用于描述有限或可数事件的概率（如抛硬币结果），与连续时间下的系统故障率模型无关。

正态分布（B）：连续型对称分布，呈钟形曲线，由均值（μ）和标准差（σ）决定，例子：成年人的身高分布。大部分人的身高集中在平均值（如170cm）附近，特别矮或特别高的人占比极低，整体分布对称。

泊松分布（C）：用于描述单位时间内事件发生次数的概率，而元器件计数法关注的是时间连续性的故障率，两者模型不同。例子：某快餐店每小时接到的订单数。假设平均每小时接到10单，但实际订单数是随机的（可能是8，12，9等），且事件独立发生。